Další rozvoj mikroskopie a difrakce s velmi pomalými elektrony v rastrovacím elektronovém mikroskopu

5513

Další rozvoj mikroskopie a difrakce s velmi pomalými elektrony v rastrovacím elektronovém mikroskopu

V rámci grantu 16507 byla vyvinuta metodika studia povrchů rastrovací elektronovou mikroskopií s velmi pomalými elektrony s vysokým rozlišením (SVLEEM). Projekt by měl pokračovat dalším vývojem zařízení s cílem dosáhnout toho nejzajímavějšího, což je nová oblast aplikací a srovnání obrazových kontrastů s již zavedenými komplementárními metodami pracujícími na podobné velmi nízké energii (10 eV). Jsou to zejména přímo zobrazující nizkonapěťová elektronová mikroskopie (LEEM), fotoemisní elektronová mikroskopie (PEEM) a rastrovací tunelová mikroskopie (STM). Experimentálními metodami s aplikací SVLEEM, které dosud nebyly realizovány, jsou mikroskopie nepokovených nevodivých vzorků s nulovým nabíjením na optimální velmi nízké energii s vysokým rozlišením, což je zajímavé zejména v biologii, geologii, zobrazení skel, keramik atd., a získání obrazu v temném a světlém poli krystalických vzorků, což umožňuje dynamické studium povrchové struktury. Srovnání obrazových kontrastů získaných v SVLEEM s kontrasty získanými v LEEM, PEEM a STM bude realizováno v rámci společných mezinárodních projektů. Základní výhody SVLEEM ve srovnání s ostatními metodami je možnost úplné detekce signálu s uchováním jak energiového tak úhlového rozložení emise při získávání signálu rastrovacím systémem.
Řešitel v ÚPT: 
Ing. Ilona Müllerová, DrSc.
Řešitel: 
Ilona Müllerová - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.
Agentura: 
GA AV ČR
Reg. č.: 
IAA2065502
Datum od: 
1. 1. 1995
Datum do: 
31. 12. 1997