Mikroskopie s lokální sondou drženou optickými silami

4438

Mikroskopie s lokální sondou drženou optickými silami

Cílem projektu je realizovat experimentální zařízení a nalézt metody využívající opticky chycenou sondu k měření sil. Optické uchycení sondy je velmi šetrné ke studování povrchu a umožňuje zjišťování vlastností vnitřních ploch transparentních objektů. Navrhovaným systémem bude možné měřit síly až o dva řády menší (1 pN - 100 pN) než síly, které jsou detekovatelné mikroskopem využívajícím interakce meziatomových sil (AFM). Úspěšné zjištění takto malých sil vyžaduje třírozměrnou detekci polohy sondy s přesností 1 - 10 nm, které lze dosáhnout kvadrantovým detektorem a dvojicí detektorů umístěných v blízkosti obrazu sondy vytvořeného optickým mikroskopem. Jako alternativního způsobu bude využito sledování změny spektra vyzařovaného opticky chyceným mikrolaserem během jeho přibližování ke studovanému povrchu. Zařízení bude sloužit ke studiu topologie povrchů a jejich optických vlastností se submikronovým rozlišením. Navrhovatelé již zvládli vytvoření několika optických pastí. Bude proto zkoumána možnost chytit do vytvořené matice pastí několik sond a zkrátit tak dobu potřebnou ke skanování povrchu vzorku.
Řešitel v ÚPT: 
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D.
Řešitel: 
Pavel Zemánek - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.
Spoluřešitelé: 

Miroslav Liška - Ústav fyzikálního inženýrství

Agentura: 
GA ČR
Reg. č.: 
GA101/00/0974
Datum od: 
1. 1. 2000
Datum do: 
31. 12. 2002