Soustava laserových interferometrů pro nanometrologii délek

4641

Soustava laserových interferometrů pro nanometrologii délek

Po vstupu České republiky do Evropské unie je na české výrobce kladen požadavek trvalého zvyšování kvality jejich produkce a tím i konkurenceschopnosti na vyspělých světových trzích. Jde-li o unikátní výrobky pro jemnou mechaniku a přesné strojírenství, jedním z měřítek kvality je vysoká geometrická přesnost výroby. Ta je obvykle výrobci zajištěna pravidelným ověřováním jejich referenčních měřidel v návaznosti na národní metrologickou soustavu. U špičkové výroby, jako jsou např. indukčnostní snímače vzdáleností, však výrobci začínají vyžadovat referenční kalibrační systémy s udanou nejistotou již v řádu nanometrů. Cílem projektu je proto vytvoření soustavy testovacích interferometrů pro nanometrologii, které budou umožňovat měření vzdáleností a kalibrace snímačů a akčních členů s uvedenou nejistotou. Tyto systémy budou začleněny do národní metrologické soustavy ČR a na akreditovaných pracovištích budou k dispozici českým výrobcům i uživatelům špičkové měřicí techniky.
Řešitel v ÚPT: 
Ing. Ondřej Číp, Ph.D.
Řešitel: 
Jan Kůr - MESING
Spoluřešitelé: 

Ondřej Číp - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.

Agentura: 
MPO
Reg. č.: 
FT-TA3/133
Datum od: 
1. 3. 2006
Datum do: 
31. 12. 2009